เมื่อวันที่ 5 มีนาคม รองศาสตราจารย์ ดร. พงศ์พันธ์ แก้วตาทิพย์ รองผู้อำนวยการสำนักงานคณะกรรมการส่งเสริมวิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม (สกสว.) และคณะได้เข้าดูงานที่บริษัท ซิลิคอน คราฟท์ เทคโนโลยี จำกัด (มหาชน) ในโอกาสนี้ทางบริษัทนำโดยดร. บดินทร์ เกษมเศรษฐ์ ประธานเจ้าหน้าที่บริหารได้บรรยายภาพรวมของอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ และสาธิตผลิตภัณฑ์ไมโครชิป RFID และ NFC ของบริษัท อาทิ ไมโครชิปเซนเซอร์แบบไร้สาย (NFC-integrated sensor microchip) สำหรับตรวจวัดสารชีวภาพและสารเคมี ไมโครชิปอัจฉริยะพร้อมฟังก์ชันตรวจสอบของจริงปลอม (NFC for authentication) นามบัตรอัจฉริยะ (NFC name card) เพื่อแลกเปลี่ยนความคิดเห็นและเสริมสร้างความเข้าใจเกี่ยวกับเทคโนโลยีนี้ ทั้งนี้ในตอนท้ายงานทางบริษัทและคณะดูงานของ สกสว. ได้ร่วมกันหารือถึงแนวทางในการยกระดับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์
ทางบริษัทขอขอบคุณหน่วยงาน สกสว. สำหรับการมาเยือนมา ณ ที่นี้ หวังเป็นอย่างยิ่งว่าเราจะได้ร่วมกันพัฒนาวงการเซมิคอนดักเตอร์ของไทยให้ก้าวไกลสู่ระดับโลก
